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固定角椭偏仪

用于测量单层或多层薄膜厚度d,单层或多层薄膜各层光学常 数的测量,如折射率n 及消光系数k。
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产品描述

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厂家:

J.A.Woollam(美国)

型号:

M-2000v

主要参数:

1.光谱范围:370-1000nm,390个数据点;

2.测量时间:最快0.05s;典型1到5s (370-1000nm全光谱范围);

3.入射角:65度固定,样品台大小:150mm水平样品台,自动Z轴高度;

4.光斑尺寸:普通光斑直径4mm左右,微光斑直径150μm。

用途及功能:

用于测量单层或多层薄膜厚度d,单层或多层薄膜各层光学常 数的测量,如折射率n 及消光系数k。

 





 





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