imgboxbg

Product

仪器中心

仪器分类

  • 表面观察类

  • 探伤分析类

  • 物相结构分析类

  • 力学性能分析类

  • 半导体行业应用

    • height-gauge-v7
    1/1
    浏览量:
    98

    离子减薄仪

    离子束（Ar离子）研磨技术适用于任何材料的样品，获得高质 量切割截面或者抛光平面解决方案，适宜扫描电镜分析和原子力显微镜分析（AFM）；该设备可用来测定 OLED材料中表面元素分析及高质量截面或者表面的形貌或 者晶型分析。
    欲了解更多信息，请直接通过电话或电子邮件与我们联系
    18351037872
    kevin.wang@supertestsystem.com
    产品描述

    fm=25.jpg

    厂家：

    徕卡

    型号：

    Leica EM TIC3X

    主要参数：

    1.离子束密度：10 mA/cm2(单个离子枪)；

    2.工作气体：氩气，纯度99.999%；

    3.最大样品尺寸：直径不小于20mm，厚度不低于10mm。

    用途及功能：

    离子束（Ar离子）研磨技术适用于任何材料的样品，获得高质 量切割截面或者抛光平面解决方案，适宜扫描电镜分析和原子力显微镜分析（AFM）；该设备可用来测定 OLED材料中表面元素分析及高质量截面或者表面的形貌或 者晶型分析。







    上一个
    原子力显微镜
    下一个
    聚焦双束扫描电镜

    QQ咨询

    QQ在线咨询

    手机

    18351037872

    微信

    扫描
    微信

    回到顶部
    方圆量仪

    微信

    服务热线:

    地址：苏州市吴中区万达晶座营销中心2518室
    邮编：215000

    邮箱：kevin.wang@supertestsystem.com

     

    Copyright©2020 苏州苏谱测试系统有限公司    ICP：苏ICP备2024091735号【免责声明】