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    X 射线荧光测厚仪

    X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。
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    kevin.wang@supertestsystem.com
    产品描述

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    X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

    典型的应用领域有：

    ●  对十分微小的零部件、接插件和线材进行测量

    ●  在印刷电路板上进行手动测量

    ●  针对珠宝和手表业中需求的测量



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